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Ingénieur-analyste en caractérisation physico-chimique par XPS et ToF-SIMS H/F

CEA

Grenoble, Auvergne-Rhône-Alpes, France CDI June 28, 2026
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Opportunity Description

Description de l'offre


Au sein du laboratoire de caractérisation des surfaces et interfaces, vous intégrerez une équipe projet dédiée à la caractérisation physico-chimique de matériaux et dispositifs issus des filières technologiques du LETI, via des techniques avancées telles que la spectroscopie de photoélectrons (XPS) ou la spectrométrie de masse d’ions secondaires (ToF-SIMS).

Après un parcours de formation sur les équipements et logiciels associés, vous aurez pour missions :

  • Réalisation des analyses par XPS et/ou ToF-SIMS sur des matériaux et dispositifs de la microélectronique. Vous jouerez un rôle d'interface clé avec les technologues du LETI pour identifier le(s) besoin(s) en caractérisation de surface et définirez la/les méthode(s) d'analyse la/les plus adaptée(s).
  • Contribution aux développements de nouveaux protocoles de mesures ou développements instrumentaux, respectivement en lien avec l’équipe ou en interface av...
    • CDI Physical Scientists

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    Opportunity Details

    Location Grenoble, Auvergne-Rhône-Alpes
    Country France
    Type CDI
    Category Physical Scientists
    Posted June 28, 2026
    Deadline August 07, 2026

    About CEA

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    CEA

    Grenoble, France

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